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薄膜測厚儀

簡要描述:薄膜測厚儀采用光譜幹涉原理進行測量,具有非接觸、無破壞、快速等特點,可在真空環境使用;可與大行程工件台配合,實現大麵積膜厚自動測量。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2021-07-08
  • 訪  問  量:336

詳細介紹

品牌其他品牌價格區間麵議
產地類別進口應用領域醫療衛生,環保,化工,電子
產品名稱:薄膜測厚儀
主要技術指標:
   測量範圍(VIS):15nm—100μm
   測量重複性(RMS):0.086nm
   測量精度(與橢偏儀對比):0.25nm
   測量層數:大於3層
   使用光源:鹵素燈;
入射角度:90°
   測試材料:透明或半透明薄膜材料;
   光斑尺寸:20μm—3mm(可選)
   測量時間:100ms—4ms;
   通信接口:USB2.0
產品特點:
采用光譜幹涉原理進行測量,具有非接觸、無破壞、快速等特點;
可在真空環境使用;可與大行程工件台配合,實現大麵積膜厚自動測量。

薄膜測厚儀測試數據

薄膜測厚儀設備組成:
測試主機、光纖、校正件、測量頭、夾持裝置、設備箱、手提電腦。

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